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與普通EDXRF相比，分辨率高，其核心光路系統(tǒng)集合國(guó)內(nèi)外幾十年EDXRF尖/端技術(shù)，核心部件采用美國(guó)進(jìn)口，軟件算法采用美國(guó)EDXRF前沿技術(shù)，儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有權(quán)/威第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)報(bào)告；采用小光斑設(shè)計(jì)，多種工作模型供選擇，測(cè)試數(shù)據(jù)更精/確，更穩(wěn)定。

產(chǎn)品特性 1. 元素測(cè)試范圍從S-U，可有效管控RoHS指令的Pb、Cd、Hg、PBB和PBDE中的Br、六價(jià)鉻的Cr元素，同時(shí)也可以管控?zé)o鹵指令中的Cl和Br元素。 2. 配備進(jìn)口的探測(cè)器，分辨率性能佳；專(zhuān)業(yè)訂做的X射線管和高壓電源，可*RoHS和無(wú)鹵環(huán)保指令的檢驗(yàn)。 3. 配套軟件采用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、理論α系數(shù)法和FP法算法，結(jié)合開(kāi)放式工作曲線可以更快速、準(zhǔn)確的實(shí)現(xiàn)各種材料中管控元素的

X射線管發(fā)出X射線照射樣品，樣品中所含的原子則向外發(fā)射原子*的X射線。這種X射線被稱(chēng)為熒光X射線，各元素具有特定的波長(zhǎng)（能量）。因此，通過(guò)檢測(cè)X射線的波長(zhǎng)就能夠進(jìn)行定性分析。另外，熒光X射線的強(qiáng)度與濃度具有函數(shù)關(guān)系，檢測(cè)每個(gè)元素X射線特征波長(zhǎng)的X射線量就能進(jìn)行定量分析。

能量色散型X射線熒光分析儀 EDX-LE Plus是一款用于RoHS/ELV/法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。 配備無(wú)需液氮型電子制冷（高分辨率SDD）檢測(cè)器，因此在實(shí)現(xiàn)降低運(yùn)作成本和更易維護(hù)的同時(shí)，以維持高可信性分析和進(jìn)一步提高操作性達(dá)到自動(dòng)化分析為目標(biāo)。 根據(jù)不同樣品從開(kāi)始測(cè)試到得到結(jié)果所需測(cè)試時(shí)間基本上可在1分鐘內(nèi)完成，所以*可以應(yīng)對(duì)RoHS法規(guī)中所限制的有害元素的篩選分